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集成电路 电磁发射测量 第8部分:辐射发射测量 IC带状线法

国家标准
标准编号:GB/T 44937.8-2025 标准状态:即将实施
标准价格:44.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本文件描述了使用带状线测量集成电路(IC)电磁辐射发射的方法。被评估IC安装在IC带状线结构的有效导体和地平面之间的EMC试验板(PCB)上。
英文名称:  Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 8:Measurement of radiated emissions—IC stripline method
标准状态:  即将实施
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学
什么是采标情况? 采标情况:  IEC 61967-8:2023
发布部门:  国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期:  2025-12-31
实施日期:  2026-07-01  即将实施 距离实施日期还有73
提出单位:  中华人民共和国工业和信息化部
什么是归口单位? 归口单位:  全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC 599)
主管部门:  全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC 599)
起草单位:  中国电子技术标准化研究院、天津先进技术研究院、北京智芯微电子科技有限公司、海研芯(青岛)微电子有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、广州市诚臻电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、中国汽车工程研究院股份有限公司、浙江诺益科技有限公司等
起草人:  付君、崔强、靳冬、吴建飞、乔磊、王新才、方文啸、朱赛、徐蛟、叶畅、梁吉明、李楠、褚瑞、黄雪梅、郑益民、陈梅双、龙发明、吴倩、王晓迪、刘星汛、臧琦、王紫任、李彦鹏、冯星辉、江峰、楼建全、赖秋辉、连恒兴、焦璨、刘佳、邓勇、鞠文静
页数:  20页
出版社:  中国标准出版社
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