|
| 英文名称： |
Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 9:Measurement of radiated immunity—Surface scan method |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路 |
| ICS分类： |
电子学>>31.200集成电路、微电子学 |
| 采标情况： |
IEC TS 62132-9:2014 |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2025-12-02 |
| 实施日期： |
2025-12-02
|
| 提出单位： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 归口单位： |
全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC 599) |
| 起草单位： |
中国电子技术标准化研究院、扬芯科技(深圳)有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、天津先进技术研究院、厦门海诺达科学仪器有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、上海电器设备检测所有限公司、厦门市产品质量监督检验院、华东师范大学、中国家用电器研究院等 |
| 起草人： |
付君、程江河、陈梅双、崔强、杨红波、吴建飞、方文啸、孙云龙、李焕然、邵鄂、梁吉明、邢琳、廉鹏飞、亓新、张艳艳、阎照文、李齐、李燕、刘佳、杨志奇、谭泽强、高新杰、李博、弓兆博、王晓迪、伍强 |
| 页数： |
28页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |