ICS国际标准分类[31.080.01半导体器件综合]-工标网

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标准编号	标准名称	发布部门	实施日期	状态
SJ 20961-2006	集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理		2006-12-30	现行
T/CIE 119-2021	半导体器件大气中子单粒子效应试验方法与程序	中国电子学会	2022-02-01	现行
T/CIE 121-2021	逆导型IGBT的热阻测试方法	中国电子学会	2022-02-01	现行
T/CIE 145-2022	辐射诱生缺陷的深能级瞬态谱测试方法	中国电子学会	2023-01-31	现行
T/CIE 147-2022	空间行波管加速寿命试验评估技术规范	中国电子学会		现行
T/IAWBS 004-2017	电动汽车用功率半导体模块可靠性试验通用要求及试验方法	中关村天合宽禁带半导.	2017-12-31	现行
T/QGCML 2892-2023	电动汽车电驱动用碳化硅（SiC）场效应晶体管（MOSFET）模块技术条件	全国城市工业品贸易中.	2023-12-31	现行
T/SLEIA 0003-2024	光电耦合器可靠性评价方法	深圳市龙岗区电子行业.	2024-02-26	现行

找到48条相关标准，共2页 [1] 2

现行即将实施作废废止

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31.080.01 半导体器件综合[17]	31.080.10 二极管[18]	31.080.20 晶体闸流管[16]
31.080.30 三极管[15]	31.080.99 其他半导体器件[6]

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