1 ICS国际标准分类[31.080.99其他半导体器件]-工标网
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标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 GB/T 15449-1995  管壳额定开关用场效应晶体管空白详细规范 国家技术监督局 1995-08-01 现行
 GB/T 15450-1995  硅双栅场效应晶体管空白详细规范 国家技术监督局 1995-08-01 作废
 GB/T 15529-1995  半导体发光数码管空白详细规范 国家技术监督局 1995-01-01 现行
 GB/T 15651.6-2023  半导体器件 第5-6部分:光电子器件 发光二极管 国家市场监督管理总局. 2024-04-01 现行
 GB/T 26111-2023  微机电系统(MEMS)技术 术语 国家市场监督管理总局. 2023-09-01 现行
 GB/T 32817-2016  半导体器件 微机电器件 MEMS总规范 国家质量监督检验检疫. 2017-03-01 现行
 GB/T 41852-2022  半导体器件 微机电器件 MEMS结构黏结强度的弯曲和剪切试验方法 国家市场监督管理总局. 2022-10-12 现行
 GB/T 41853-2022  半导体器件 微机电器件 晶圆间键合强度测量 国家市场监督管理总局. 2022-10-12 现行
 GB/T 42158-2023  微机电系统(MEMS)技术 微沟槽和棱锥式针结构的描述和测量方法 国家市场监督管理总局. 2023-07-01 现行
 GB/T 42191-2023  MEMS压阻式压力敏感器件性能试验方法 国家市场监督管理总局. 2023-09-01 现行
 GB/T 42597-2023  微机电系统(MEMS)技术 陀螺仪 国家市场监督管理总局. 2023-09-01 现行
 GB/T 43493.1-2023  半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分:缺陷分类 国家市场监督管理总局. 2024-07-01 即将实施
 GB/T 43493.2-2023  半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分:缺陷的光学检测方法 国家市场监督管理总局. 2024-07-01 即将实施
 GB/T 43493.3-2023  半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分:缺陷的光致发光检测方法 国家市场监督管理总局. 2024-07-01 即将实施
 SJ/T 11152-1998  交流粉末电致发光显示器件空白详细规范 1998-05-01 现行
 T/SLEIA 0004-2024  集成电路芯片长期贮存技术规范 深圳市龙岗区电子行业. 2024-02-26 现行
 找到16条相关标准,共1页 现行 即将实施 作废 废止 
 
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 31.080.01 半导体器件综合[17] 31.080.10 二极管[18] 31.080.20 晶体闸流管[16]
 31.080.30 三极管[15] 31.080.99 其他半导体器件[6]  
 
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