| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 12561-1990 |
发光二极管空白详细规范(可供认证用) |
国家技术监督局
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1991-10-01 |
作废 |
| GB/T 12562-1990 |
PIN 二极管空白详细规范(可供认证用) |
信息产业部（电子）
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1991-10-01 |
作废 |
| GB/T 13063-1991 |
电流调整和电流基准工极管 空白详细规范 |
国家技术监督局
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1992-03-01 |
作废 |
| GB/T 15137-1994 |
体效应二极管空白详细规范 |
国家技术监督局
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1995-04-01 |
作废 |
| GB/T 15177-1994 |
微波检波、混频二极管空白详细规范 |
国家技术监督局
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1995-04-01 |
作废 |
| GB/T 15178-1994 |
变容二极管空白详细规范 |
国家技术监督局
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1995-04-01 |
作废 |
| GB/T 16894-1997 |
大于100A,环境和管壳额定的整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范 |
国家技术监督局
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1998-03-01 |
现行 |
| GB/T 4023-1997 |
半导体器件分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
作废 |
| GB/T 4023-2015 |
半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 |
国家质量监督检验检疫.
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2017-01-01 |
现行 |
| GB/T 6351-1998 |
半导体器件 分立器件 第2部分:整流二极管 第一篇 100A以下环境或管壳额定整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范 |
国家质量技术监督局
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1999-06-01 |
现行 |
| GB/T 6570-1986 |
微波二极管测试方法 |
国家标准局
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1987-07-01 |
作废 |
| GB/T 6571-1995 |
半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 |
国家技术监督局
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1996-04-01 |
现行 |
| GB/T 6588-2000 |
半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 第1篇 信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范 |
国家质量技术监督局
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2001-10-01 |
现行 |
| GB/T 6589-1986 |
电压调整和电压基准二极管(包括温度补偿精密基准二极管)空白详细规范(可供认证用) |
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1987-07-01 |
作废 |
| GB/T 6589-2002 |
半导体器件 分立器件 第3-2部分: 信号(包括开关)和调整二极管电压调整二极管和电压基准二极管(不包括温度补偿精密基准二极管)空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-05-01 |
现行 |
| SJ 20957-2006 |
大功率半导体激光二极管阵列通用规范 |
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2006-12-30 |
现行 |
| SJ 50033/162-2003 |
半导体分立器件2CW1022型硅双向电压调整二极管详细规范 |
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2004-03-01 |
现行 |
| SJ 50033/164-2003 |
半导体分立器件PIN0002型PIN二极管详细规范 |
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2004-03-01 |
现行 |
| SJ 50033/165-2003 |
半导体分立器件PIN0003型PIN二极管详细规范 |
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2004-03-01 |
现行 |