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非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

国家标准
标准编号:GB/T 4326-2006 标准状态:现行
标准价格:38.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准规定的测量方法适用于非本征半导体单晶材料的霍尔系数、载流子霍尔迁移率、电阻率和载流子浓度。 本标准规定的测量方法仅在有限的范围内对锗、硅、砷化镓单晶材料进行了实验室测量,但该方法也可适用于其他半导体单晶材料,一般情况下,适用于室温电阻率高达104Ω·cm
英文名称:  Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
什么是替代情况? 替代情况:  替代GB/T 4326-1984
什么是中标分类? 中标分类:  冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
什么是ICS分类?  ICS分类:  冶金>>金属材料试验>>77.040.01金属材料试验综合
什么是采标情况? 采标情况:  ASTM F76 NEQ
发布部门:  国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会
发布日期:  2006-07-18
实施日期:  2006-11-01
首发日期:  1984-04-12
提出单位:  中国有色金属工业协会
什么是归口单位? 归口单位:  全国有色金属标准化技术委员会
主管部门:  中国有色金属工业协会
起草单位:  北京有色金属研究总院
起草人:  王彤涵
计划单号:  20021939-T-610
页数:  15页
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2006-11-01
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本标准相关公告
·中华人民共和国国家标准批准发布公告2006年第8号 (总第95号) [2006-09-14]

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