工标网 回首页
标准分类  最新标准New!  标准公告 标准动态  标准论坛
 高级查询
帮助 | 登录 | 注册
查标准上工标网 免费查询标准最新替代作废信息
 您的位置:工标网 >> >> GB/T 25074-2010

太阳能级多晶硅

国家标准
标准编号:GB/T 25074-2010 标准状态:已作废
标准价格:14.0 客户评分:星星星星1
本标准有现货可当天发货一线城市最快隔天可到!
点击放入购物车 如何购买?问客服 放入收藏夹,免费跟踪本标准更替信息! 参与评论本标准
标准简介
本标准规定了太阳能级多晶硅的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则和包装、标志、运输、贮存及订货单(或合同)内容等。
本标准适用于以氯硅烷为原料采用(改良)西门子法和硅烷法等工艺生产的棒状多晶硅、块状多晶硅、颗粒状多晶硅产品。产品主要用于太阳能级单晶硅棒和定向凝固多晶硅锭的生产。
英文名称:  Solar-grade polycrystalline silicon
标准状态:  已作废
什么是替代情况? 替代情况:  GB/T 25074-2017代替
什么是中标分类? 中标分类:  冶金>>半金属与半导体材料>>H82元素半导体材料
什么是ICS分类?  ICS分类:  电气工程>>29.045半导体材料
发布部门:  中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:  2010-09-02
实施日期:  2011-04-01
作废日期:  2018-05-01
首发日期:  2010-09-02
提出单位:  全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)
什么是归口单位? 归口单位:  全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)
主管部门:  全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)
起草单位:  洛阳中硅高科技有限公司、无锡尚德太阳能电力有限公司、中国电子技术标准化研究所、中国有色金属工业标准计量质量研究所、中国电子材料行业协会、西安隆基硅材料股份有限公司、四川新光硅业科技有限责任公司
起草人:  杨玉安、袁金满、孙世龙、刘筠、贺东江、汪义川、鲁瑾、曹宇、梁洪
页数:  8页
出版社:  中国标准出版社
书号:  155066.1-40400
出版日期:  2011-04-01
  [ 评论 ][ 关闭 ]
前言
本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)提出并归口。
本标准起草单位:洛阳中硅高科技有限公司、无锡尚德太阳能电力有限公司、中国电子技术标准化研究所、中国有色金属工业标准计量质量研究所、中国电子材料行业协会、西安隆基硅材料股份有限公司、四川新光硅业科技有限责任公司。
本标准主要起草人:杨玉安、袁金满、孙世龙、刘筠、贺东江、汪义川、鲁瑾、曹宇、梁洪。
引用标准
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T1550 非本征半导体材料导电类型测试方法
GB/T1551 硅单晶电阻率测定方法
GB/T1553 硅和锗体内少数载流子寿命测定 光电导衰减法
GB/T1557 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
GB/T1558 硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法
GB/T4059 硅多晶气氛区熔磷检验方法
GB/T4060 硅多晶真空区熔基硼检验方法
GB/T4061 硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法
GB/T24574 硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法
GB/T24581 低温傅立叶变换红外光谱法测量单晶硅中Ⅲ、Ⅴ族杂质含量的测试方法
SEMIMF1535 用微波反射光电导衰减法非接触测量硅片载流子复合寿命的测试方法

元素半导体材料相关标准 第1页 
 GB/T 25074-2017E 太阳能级多晶硅(英文版)
 GB/T 25076-2018 太阳能电池用硅单晶
 GB/T 26071-2018 太阳能电池用硅单晶片
 GB/T 26072-2010 太阳能电池用锗单晶
 GB 2881-1991 工业硅技术条件
 GB/T 29054-2012 太阳能级铸造多晶硅块
 GB/T 29054-2019 太阳能电池用铸造多晶硅块
 GB/T 29055-2012 太阳电池用多晶硅片
 GB/T 29055-2019 太阳能电池用多晶硅片
 GB/T 29504-2013 300mm 硅单晶
 免费下载元素半导体材料标准相关目录

半导体材料相关标准 第1页 第2页 
 GB/T 25075-2010 太阳能电池用砷化镓单晶
 GB/T 25076-2010 太阳电池用硅单晶
 GB/T 26065-2010 硅单晶抛光试验片规范
 GB/T 26066-2010 硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法
 GB/T 26067-2010 硅片切口尺寸测试方法
 GB/T 26068-2010 硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法
 GB/T 26069-2010 硅退火片规范
 GB/T 26071-2010 太阳能电池用硅单晶切割片
 GB/T 2881-2008 工业硅
 GB/T 2881-2014 工业硅
 免费下载半导体材料标准相关目录

 发表留言
内 容
  用户:   口令:  
 
 
客服中心
有问题?找在线客服 点击和客服交流,我们的在线时间是:工作日8:30至18:00,节假日;9:00至17:00。工标网欢迎您和我们联系!
未开通400地区或小灵通请直接拨打0898-3137 2222 400-7255-888 (市话)
客服QQ 1006926259 569872709
MSN或电子邮件 18976748618 13876321121
温馨提示:标准更新替换较快,请注意您购买的标准时效性。
常见问题 帮助中心
我为什么找不到我想要的标准?
配送范围、配送时间和收费标准
如何付款,支持哪些付款方式?
您可能还需要 更多
硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法..
太阳电池用硅单晶
硅中代位碳原子含量 红外吸收测量方法..
硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法 ..
硅多晶 GB/T 12963-2009
酸浸取 电感耦合等离子质谱仪测定多晶..
硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法 ..
硅抛光片表面质量目测检验方法
必备软件下载
Adobe Acrobat Reader 是一个查看、 阅读和打印PDF文件的最佳工具,通 过它可以查阅本站的标准文档
pdf下载
搜索更多
google 中搜索:GB/T 25074-2010 太阳能级多晶硅
baidu 中搜索:GB/T 25074-2010 太阳能级多晶硅
yahoo 中搜索:GB/T 25074-2010 太阳能级多晶硅
soso 中搜索:GB/T 25074-2010 太阳能级多晶硅
中搜索:GB/T 25074-2010 太阳能级多晶硅
 
付款方式 - 关于我们 - 帮助中心 - 联系我们 - 诚聘英才 - 合作伙伴 - 使用条款
QQ:1006926259 569872709 有问题? 联系在线客服
Copyright © 工标网 2005-2009,All Right Reserved  国家标准发行授权书