| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 18501.2-2001 |
直流和低频模拟及数字式高速数据处理设备用连接器 第2部分：有质量评定的圆形连接器分规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-05-01 |
现行 |
| GB/T 34989-2017 |
连接器 安全要求和试验 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-05-01 |
现行 |
| GB/T 36646-2018 |
制备氮化物半导体材料用氢化物气相外延设备 |
国家市场监督管理总局.
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2019-01-01 |
现行 |
| GB/T 39339-2020 |
宇航用电连接器设计准则和方法 |
国家市场监督管理总局.
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2021-06-01 |
现行 |
| GB/T 39341-2020 |
宇航用高速传输连接器通用规范 |
国家市场监督管理总局.
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2021-06-01 |
现行 |
| GB/T 39950-2021 |
LED灯用氧化铝陶瓷散热元件 |
国家市场监督管理总局.
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2021-11-01 |
现行 |
| GB/T 39975-2021 |
氮化铝陶瓷散热基片 |
国家市场监督管理总局.
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2021-12-01 |
现行 |
| GB/T 40577-2021 |
集成电路制造设备术语 |
国家市场监督管理总局.
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2022-05-01 |
现行 |
| GB/T 41036-2021 |
宇航用超高低温圆形电连接器通用规范 |
国家市场监督管理总局.
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2022-07-01 |
现行 |
| GB/T 41213-2021 |
集成电路用全自动装片机 |
国家市场监督管理总局.
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2022-07-01 |
现行 |
| GB/T 42207.5-2022 |
电子设备用连接器 产品要求 矩形连接器 第5部分：额定电压直流250V额定电流30A卡扣锁紧可重复接线电源连接器详细规范 |
国家市场监督管理总局.
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2023-07-01 |
现行 |
| GB/T 43368-2023 |
宇航用分离脱落连接器通用规范 |
国家市场监督管理总局.
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2024-03-01 |
现行 |
| GB 50710-2011 |
电子工程节能设计规范 |
住房和城乡建设部
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2012-06-01 |
现行 |
| GB/T 5095.1-1997 |
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第1部分:总则 |
信息产业部（电子）
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1998-10-01 |
现行 |
| GB/T 5095.11-1997 |
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第11部分:气候试验 |
信息产业部（电子）
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1998-10-01 |
现行 |
| GB/T 5095.12-1997 |
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第12部分:锡焊试验 第六篇:试验12f 在机器焊接中封焊处耐焊剂和清洁剂 |
国家技术监督局
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1998-10-01 |
现行 |
| GB/T 5095.15-1997 |
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第15部分:接触件和引出端的机械试验 第八篇:试验15h 接触件固定机构耐工具使用性 |
国家技术监督局
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1998-10-01 |
现行 |
| GB/T 5095.2-1997 |
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分:一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验 |
国家技术监督局
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1998-10-01 |
现行 |
| GB/T 5095.2303-2021 |
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-3部分：屏蔽和滤波试验 试验23c：连接器和附件的屏蔽效果 线注入法 |
国家市场监督管理总局.
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2021-10-01 |
现行 |
| GB/T 5095.2304-2021 |
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-4部分：屏蔽和滤波试验 试验23d：时域内传输线的反射 |
国家市场监督管理总局.
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2021-10-01 |
现行 |
| GB/T 5095.2307-2021 |
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-7部分：屏蔽和滤波试验 试验23g：连接器的有效转移阻抗 |
国家市场监督管理总局.
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2021-10-01 |
现行 |
| GB/T 5095.2501-2021 |
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分：试验25a：串扰比 |
国家市场监督管理总局.
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2021-10-01 |
现行 |
| GB/T 5095.2502-2021 |
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗） |
国家市场监督管理总局.
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2021-10-01 |
现行 |
| GB/T 5095.2503-2021 |
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减 |
国家市场监督管理总局.
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2021-10-01 |
现行 |
| GB/T 5095.2504-2021 |
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分：试验25d：传输时延 |
国家市场监督管理总局.
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2021-10-01 |
现行 |
| GB/T 5095.2505-2021 |
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分：试验25e：回波损耗 |
国家市场监督管理总局.
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2021-10-01 |
现行 |
| GB/T 5095.2506-2020 |
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-6部分：试验25f：眼图和抖动 |
国家市场监督管理总局.
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2020-11-01 |
现行 |
| GB/T 5095.2507-2021 |
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR） |
国家市场监督管理总局.
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2021-10-01 |
现行 |
| GB/T 5095.2509-2020 |
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分：信号完整性试验 试验25i：外来串扰 |
国家市场监督管理总局.
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2020-11-01 |
现行 |
| GB/T 5095.3-1997 |
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第3部分:载流容量试验 |
国家技术监督局
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1998-10-01 |
现行 |
| GB/T 5095.4-1997 |
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第4部分:动态应力试验 |
信息产业部（电子）
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1998-10-01 |
现行 |
| GB/T 5095.5-1997 |
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分:撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验 |
国家技术监督局
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1998-10-01 |
现行 |
| GB/T 5095.6-1997 |
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分:气候试验和锡焊试验 |
信息产业部（电子）
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1998-10-01 |
现行 |
| GB/T 5095.7-1997 |
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第7部分:机械操作试验和密封性试验 |
国家技术监督局
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1998-10-01 |
现行 |
| GB/T 5095.8-1997 |
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第8部分:连接器、接触件及引出端的机械试验 |
国家技术监督局
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1998-10-01 |
现行 |
| GB/T 5095.9-1997 |
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第9部分:杂项试验 |
国家技术监督局
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1998-10-01 |
现行 |
| GB/T 8446.2-2022 |
电力半导体器件用散热器 第2部分：热阻和流阻测量方法 |
国家市场监督管理总局.
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2022-10-01 |
现行 |
| GB/T 9393-2012 |
STZ3型电子测量仪器用电源连接器 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-06-01 |
现行 |
| GB/T 9536-1995 |
电子设备用机电开关 第1部分:总规范 |
国家技术监督局
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1996-08-01 |
作废 |
| GB 9537-1988 |
电子设备用键盘开关 第一部分:总规范 |
中国电器工业协会
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1989-02-01 |
作废 |