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标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 SJ/T 10804-2000  半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理 信息产业部 2001-03-01 废止
 SJ/Z 11351-2006  用于描述、选择和转让的集成电路IP核属性格式标准 2006-12-01 现行
 SJ/Z 11352-2006  集成电路IP核测试数据交换格式和准则规范 2006-12-01 现行
 SJ/Z 11353-2006  集成电路IP核转让规范 2006-12-01 现行
 SJ/Z 11354-2006  集成电路模拟/混合信号IP核规范 2006-12-01 现行
 SJ/Z 11355-2006  集成电路IP/SoC功能验证规范 2006-12-01 现行
 SJ/Z 11356-2006  片上总线属性规范 2006-12-01 现行
 SJ/Z 11357-2006  集成电路IP软核、硬核的结构、性能和物理建模规范 2006-12-01 现行
 SJ/Z 11358-2006  集成电路IP核模型分类法 2006-12-01 现行
 SJ/Z 11359-2006  集成电路IP核开发与集成的功能验证分类法 2006-12-01 现行
 SJ/Z 11360-2006  集成电路IP核信号完整性规范 2006-12-01 现行
 SJ/Z 11361-2006  集成电路IP核保护大纲 2006-12-01 现行
 SJ 20954-2006  集成电路锁定试验 2006-12-30 现行
 SJ 50597/60-2004  半导体集成电路 JW117/JW150/JW138型三端可调正输出电压调整器详细规范 2004-12-01 现行
 SJ 50597/61-2005  半导体集成电路JW1083/JW1084/JW1085/JW1086型三端可调正输出低压差电压调整器详细规范 2006-06-01 现行
 SJ 50597/62-2006  半导体集成电路JF1558、JF1558A型通用双运算放大器详细规范 2006-12-30 现行
 SJ 50597/63-2006  半导体集成电路JF124、JF124A型四运算放大器详细规范 2006-12-30 现行
 SJ 52438/14-2004  混合集成电路HPA501J型功率放大器详细规范 信息产业部 2004-12-01 现行
 T/CIE 067-2020  工业级高可靠集成电路评价 第1部分：AC/DC电路 中国电子学会 2020-08-15 现行
 T/CIE 068-2020  工业级高可靠集成电路评价 第2部分：DC/DC变换器 中国电子学会 2020-08-15 现行
 T/CIE 069-2020  工业级高可靠集成电路评价 第3部分：功率放大器 中国电子学会 2020-08-15 现行
 T/CIE 070-2020  工业级高可靠集成电路评价 第4部分：非易失性存储器 中国电子学会 2020-08-15 现行
 T/CIE 071-2020  工业级高可靠集成电路评价 第6部分：蓝牙芯片 中国电子学会 2020-08-15 现行
 T/CIE 072-2020  工业级高可靠集成电路评价 第7部分：AD和DA转换器 中国电子学会 2020-08-15 现行
 T/CIE 073-2020  工业级高可靠集成电路评价 第8部分：微控制器（MCU） 中国电子学会 2020-08-15 现行
 T/CIE 074-2020  工业级高可靠集成电路评价　第9部分：电表用微控制器(MCU) 中国电子学会 2020-08-15 现行
 T/CIE 075-2020  工业级高可靠集成电路评价 第10部分：温度传感器 中国电子学会 2020-08-15 现行
 T/CIE 076-2020  工业级高可靠集成电路评价　第11部分：压力传感器 中国电子学会 现行
 T/CIE 077-2020  工业级高可靠集成电路评价　第12部分：倾角传感器 中国电子学会 2020-08-15 现行
 T/CIE 079-2020  工业级高可靠集成电路评价　第14部分：图像传感器 中国电子学会 2020-08-15 现行
 T/CIE 080-2020  工业级高可靠集成电路评价　第15部分：超高频射频识别 中国电子学会 2020-08-15 现行
 T/CIE 081-2020  工业级高可靠集成电路评价　第16部分：高频射频识别 中国电子学会 2020-08-15 现行
 T/CIE 117-2021  MEMS器件机械冲击试验方法 中国电子学会 2022-02-01 现行
 T/CIE 120-2021  半导体集成电路硬件木马检测方法 中国电子学会 2022-02-01 现行
 T/CIE 133-2022  磁随机存储器件数据保持时间测试方法 中国电子学会 2022-08-10 现行
 T/CIE 134-2022  磁随机存储芯片数据保持时间测试方法 中国电子学会 2022-08-10 现行
 T/CIE 143-2022  复杂组件封装关键结构寿命评价方法 中国电子学会 现行
 T/CIE 146-2022  微机电（MEMS）器件晶圆键合试验评价方法 中国电子学会 现行
 T/CIE 148-2022  阻变存储单元电学测试规范 中国电子学会 2023-01-31 现行
 T/CIE 155-2023  非易失性相变存储器电性能测试方法 中国电子学会 2023-03-20 现行
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