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半导体探测器X射线能谱仪通则

国家标准
标准编号:GB/T 20726-2006 标准状态:已作废
标准价格:16.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪特性最重要的量值。
英文名称:  Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors
标准状态:  已作废
什么是替代情况? 替代情况:  GB/T 20726-2015代替
什么是中标分类? 中标分类:  仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器
什么是ICS分类?  ICS分类:  化工技术>>分析化学>>71.040.99有关化学分析方
什么是采标情况? 采标情况:  等同ISO 15632-2002
发布部门:  中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:  2006-12-25
实施日期:  2007-08-01
作废日期:  2016-09-01
首发日期:  2006-12-25
提出单位:  全国微束分析标准化技术委员会
什么是归口单位? 归口单位:  全国微束分析标准化技术委员会
主管部门:  国家标准化管理委员会
起草单位:  中国科学院地质与地球物理研究所
起草人:  曾荣树、徐文东、毛骞、马玉光、范光
计划单号:  20030762-T-469
页数:  平装16开 页数:11, 字数:14千字
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2007-08-01
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本标准相关公告
·中华人民共和国国家标准批准发布公告2015年第31号 [2015-10-14]
·中华人民共和国国家标准批准发布公告2006年第13号(总第100号) [2007-03-28]

电子光学与其他物理光学仪器相关标准 第1页 第2页 第3页 第4页 
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